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日本日置HIOKI 3535LCR测试仪
详细信息| 询价留言高速LCR仪，采样率可高至120MHz
- 100kHz～120MHz的宽频带
- 高速LCR测试（6ms/采样）
- 拆卸式前置放大器可选择
- 为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能
不能单独使用, 测量时需要选择前置放大器单元和测试冶具或探头。
输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件基本参数
测量参数
|Z|，|Y|，Q，Rp，Rs(ESR)，G，X，B，θ，Ls，Lp，Cs，Cp，D(tanδ)
前置放大器
决定的测量量程前置放大器
9700-01
9700-02
9700-03
Z和R
100mΩ～1kΩ
500Ω～10kΩ
5kΩ～100kΩ
C
1.33pF～15.9μF
0.133pF～3.18nF
0.1pF～318pF
L
1nH～1.59mH
663nH～15.9mH
6.63μH～159mH
θ
-180.00°～180.00°
测量频率
量程
100kHz～120MHz
分辨率设置
4位（使用前控制板设置）
100.0kHz～1.000MHz
100Hz幅度
1.000MHz～10.00MHz
1kHz幅度
10.00MHz～100.0MHz
10kHz幅度
100.0MHz～120.0MHz
100kHz幅度
使用GP-IB或RS-232C接口时，分辨率为1Hz。
精度
*大 ± 0.005%，相对于设置值
测量电平
开路接口电压（V）
和恒压（CV）模式5mV～1V,*大20mA(10.000MHz以下)
5mV～500mV,*大10mA（10.01MHz以上）分辨率
1mV幅度
精度
±（5%+5mV）×(2+log f)(f为MHz
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